雷達(dá)物位計(jì)優(yōu)勢發(fā)射能量很低的極短的微波脈沖通過天線系統(tǒng)發(fā)射并接收。雷達(dá)波以光速運(yùn)行。運(yùn)行時(shí)間可以通過電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號(hào)。一種特殊的時(shí)間延伸方法可以確保極短時(shí)間內(nèi)穩(wěn)定和精確的測量。

　　雷達(dá)物位計(jì)是一種非常實(shí)用的物位測量工具，在實(shí)際的工業(yè)應(yīng)用現(xiàn)場中，會(huì)存在多種非理想情況，在雷達(dá)物位計(jì)設(shè)計(jì)信號(hào)處理方法時(shí)，必須考慮以下五點(diǎn)因素：

　　1、雷達(dá)物位計(jì)的應(yīng)用場合往往是局限的狹小空間，而不是開放的巨大的空間。雷達(dá)物位計(jì)發(fā)射的信號(hào)是電磁波，電磁波在空間是發(fā)散傳播的，具有電磁波所有的一切特性，如反射，衍射，折射等。傳播空間中的任何物體都會(huì)產(chǎn)生信號(hào)的反射。狹小的空間會(huì)產(chǎn)生諸多的反射信號(hào)，其中有物體表面的直接反射信號(hào)，也有信號(hào)的來回反射和震蕩(表面間的多次反射)。

　　2、當(dāng)液面的高度不同時(shí)，相當(dāng)于測量空間形狀在不斷變化，信號(hào)的反射和震蕩情況也不同。特別是當(dāng)測量的空間有曲面時(shí)，如拱頂罐，球形容器或臥式橢圓罐時(shí)，由于曲面對(duì)電磁波有聚焦作用，液位的高度變化對(duì)反射的影響更大。

　　3、在雷達(dá)物位計(jì)安裝和投用后，應(yīng)用場合的空間表面情況不斷變化的。以反應(yīng)罐為例，化工過程需要測量的介質(zhì)是多種多樣的，進(jìn)料時(shí)液面會(huì)有變化，如物料黏附，罐體內(nèi)表面的物理或化學(xué)特性變化等，這些變化不可避免地會(huì)影響反射信號(hào)的強(qiáng)度。

　　4、某些應(yīng)用現(xiàn)場的介質(zhì)會(huì)直接影響到雷達(dá)波的發(fā)射和接受。一方面表現(xiàn)在對(duì)天線的影響上。如蒸汽冷凝在天線表面，物料結(jié)晶在天線表面。另一方面罐內(nèi)介質(zhì)的揮發(fā)或霧化，也會(huì)影響雷達(dá)波的傳播，進(jìn)而對(duì)測量產(chǎn)生影響。

　　5、測量的液面也有多種情況變化，如靜止時(shí)是鏡面;液位變化時(shí)表面會(huì)產(chǎn)生波動(dòng);有時(shí)可能會(huì)有泡沫的存在。在不同的情況下，信號(hào)的多次反射情況會(huì)發(fā)生變化。